工程师亲述：普源精电MHO5000让IGBT测试效率提升3倍，还不用买昂贵选件！

引言：IGBT测试的“效率焦虑”与“成本困局”

在新能源汽车、工业电机等场景中，IGBT（绝缘栅双极晶体管）的测试需兼顾高频开关损耗分析、驱动电路参数优化及长期可靠性验证。传统示波器（如某国外品牌的5系示波器）依赖额外选件才能满足需求，不仅采购成本高昂（选件费用占设备总价30%以上），还需频繁维护，导致工程师陷入“效率低、成本高”的恶性循环。普源精电MHO5000示波器却以原生集成功能与极致性价比，彻底打破了这一困局——“省下的不仅是钱，更是时间！”

一、工程师最痛的三大场景

1. 驱动波形参数优化：反复调试的“无底洞”

痛点：

传统设备需通过外接差分探头与触发选件才能捕捉IGBT栅极-发射极（GE）波形，单次参数调整耗时超30分钟；

成本黑洞：国外品牌5系示波器选件费用高达¥90,000，且需专业培训才能使用。

2. 高频开关损耗测量：数据打架的“糊涂账”

痛点：

依赖人工手动积分计算损耗，易受高频噪声干扰，误差高达±15%；

某厂商曾因损耗计算偏差导致IGBT选型错误，量产成本增加¥800,000。

3. 长期可靠性测试：数据丢失的“定时炸弹”

痛点：

传统设备存储深度不足，72小时老化测试需频繁重启，数据完整率仅60%；

某新能源车企曾因断电丢失关键数据，导致研发周期延长3个月。

二、RIGOL MHO5000的“一键破局”方案

1. 八路信号协同：告别选件，原生支持IGBT全链路测试

技术亮点：

三相电压/电流同步采集：无需差分探头，直接测量IGBT开关波形（图1）；

CAN FD协议解码：自动关联驱动指令与开关动作时序，参数调整效率提升3倍。

实测数据：

某车企工程师通过MHO5000同步优化栅极电阻与死区时间，单次测试周期从2小时缩短至20分钟。

2. 实时FFT+自动积分：损耗计算“快准狠”

功能突破：

硬件级实时FFT：10μs内生成频谱图，自动剔除高频噪声分量；

一键损耗计算：基于频谱数据自动积分Eon/Eoff，误差<±0.5%。

场景验证：

SiC MOSFET开关损耗分析： MHO5000的自动积分功能将测量效率提升3倍，且无需人工校准（图2）。

3. 500Mpts超长存储：数据“零丢失”的保险箱

可靠性设计：

无损分段存储：自动标记异常时段，72小时老化测试数据完整率100%；

双电源智能切换：断电瞬间启动紧急记录，保障关键数据不丢失。

客户案例：

某工业电机厂商：连续运行MHO5000 18个月无故障，年节省存储设备采购费¥150,000。

三、成本对比：MHO5000 vs 泰克5系选件

四、工程师亲述：真实场景中的“效率革命”

“以前调试IGBT驱动波形时，光是配探头就花半小时！现在MHO5000原生支持八路信号，十分钟搞定！”—— 张工，某新能源汽车电控系统工程师

“国外品牌5系的选件动不动就出故障，一年维修费比设备还贵！MHO5000用了两年零问题，省下的钱都够买两台了！”—— 李博士，某工业自动化企业测试主管

结语：用国产设备的价格，享受泰克5系Pro级的性能

在IGBT测试领域，RIGOL MHO5000以原生集成功能、极致性价比与工业级可靠性，彻底终结了工程师对“高成本、低效率”的妥协。无论是驱动波形优化、高频开关损耗分析，还是长期老化测试，其全链路一体化能力正成为企业降本增效的核心利器。

立即行动

免费申请试用：访问RIGOL官网，获取MHO5000设备与《IGBT测试效率提升指南》；

技术支持：访问RIGOL官网，联系工程师团队，定制您的专属IGBT测试方案！

附录

图1：MHO5000原生支持IGBT栅极-发射极波形同步采集（无需差分探头）；

图2：MHO5000自动积分计算的SiC MOSFET开关损耗曲线（误差<0.5%）；